厂 商 日本日立公司
型 号 S-4800
到货日期 2007年6月
二次电子分辨率：
1.0nm (15kV)；
2.0nm (1kV)； 催化剂(Pt on C)
1.4nm (1kV减速模式) Catalyst(Pt on C)
背散射电子分辨率：3.0 nm (15 kV)
加速电压：0.5～30kV
电子枪：冷场发射电子源
放大倍率：30～800,000倍
X射线能谱仪的元素分析范围：Be4～U92
主要用途
用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析，主要用途如下：
金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察；
材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定；
金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定；
纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析 ；
进行材料表面微区成分的定性和定量分析。