仪器厂商：德国布鲁克公司/Bruker AXS
型 号：D8 Advance
到货日期：2007年6月
验收日期：2007年9月

技术指标：
● Cu靶X光管电压≤50kV、电流≤40mA
● Co靶X光管电压≤40kV、电流≤40mA
● 测角仪工作方式：θ/θ方式
● 扫描范围：- 3°～150°
● 测角仪精度：0.0001°，准确度≤0.02°
● 测试温度范围：-170℃至1200℃
功能特点：
多晶X射线衍射仪配有高温及中低温附件，可以进行非环境(高温、低温)X射线衍射分析，用于研究材料的热膨胀系数、相变、结晶度、热振动振幅、相平衡关系、原子排列的有序度等。
主要用途：
● 多晶样品的常规物相分析和定量分析，
● 室温至1200℃的多晶样品物相分析
● -170℃～450℃的多晶样品物相分析
● 晶胞参数的测定，修正
● 未知多晶样品的X射线衍射指标化
● 晶粒尺寸和结晶度测定

高分辨X射线衍射仪

仪器厂商：德国布鲁克公司／Bruker AXS
型号：D8 Discover
到货日期：2007年6月
验收日期：2007年9月
技术指标：
● Cu靶X光管电压≤50kV、电流≤40mA
● 测角仪工作方式：θ/2θ方式
● 扫描范围：- 3°～150°
● 5轴尤拉环样品台的测试范围：
K轴：-10°到91°
F轴：±360°
X轴：-50mm到+50mm
Y轴：-50mm到+50mm
Z轴：-1.5mm到+2mm
● 测角仪精度：0.0001°、准确度≤0.02°
功能特点：
高分辨X射线衍射仪配有Gobel 反射镜和双晶单色器，可获得近平行的入射X射线，可以对单晶、薄膜及纳米材料等进行精细的X射线衍射分析。
主要用途：
● 单晶及单晶外延膜分析
● 摇摆曲线的测定及φ扫描
● 三轴晶衍射测量（即倒易空间等强度分布图测量，Mapping）
● 薄膜的物相分析、厚度及粗糙度测量
● 小角散射测试